SJ 50033.141-1999 半导体分立器件2EK150型砷化镓高速开关二极管详细规范
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9 |
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日期： |
2024-7-28 |
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SJ,中华人民共和国电子行业军用标准,FL 5961 SJ 50033/141—1999,半导体分立器件,2EK150型神化钱高速,开关二极管详细规范,Semiconductor discrete devices,Detail specification for type 2EK150,GaAs high speed switching diode,19997170 发布1999-12-01 实施,中华人民共和国信息产业部 批准,下载,中华人民共和国电子行业军用标准,半导体分立器件,2EK150型神化镜高速开关二极管详细规范 SJ 50033/141—1999,Semiconductor discrete devices,Detail specification for type 2EK150,GaAs high speed switching diode,1范围,1.1 主题内容,本规范规定了 2EK150型神化傢高速开关二极管（以下简称器件）的详细要求,1.2 适用范围,本规范适用于器件的研制、生产和采购,1.3 分类,本规范根据器件质量保证等级进行分类,1.3.1 器件的等级,按GJB 33A《半导体分立器件总规范》131的规定,提供的器件质量保证等级为,普军、特军和超特军三级,分别用字母JP、JT和JCT表示,2引用文件,GB" 6571—1995半导体器件分立器件第3部分:信号（包括开关）和调整二,极管,GJB 33A-97半导体分立器件总规范,GJB 128A-97半导体分立器件试验方法,3要求,3.I 详细要求,各项要求应按GJB 33A和本规范的规定,3.2 设计、结构和外形尺寸,器件的设计、结构和外形尺寸应按GJB 33A和本规范的规定,3.2.I 引线材料和镀涂,引线材料为可伐,引线镀涂为镀金,3.2.2 外売材料,外壳材料为金属/陶瓷封装材料,中华人民共和国信息产业部1999-11-10发布 !999-12-01实施,SJ 50033/141—1999,3.2.3 瀋件结构,碑化银GaAs外延材料,肖特基势垒扁平微带空腔封装,3.2.4 外形尺寸,器件的外形尺寸应按本规范的规定（见图1）,mm,尺寸符号,数值,尺寸符号,数值,最小标称?最大最小标称最大,B 0.6 — 0.9 H 1.3 — 1.8,C 0,1 一0.14 L一10.00 一—,￠2) 2.8 一3.2 厶1.2 一1.5,图1,3. 3最大额定值和主要电特性,3. 3.1最大额定值,注:1） 7； >25。￠时,按0.35mA/oC线性降额,パAsm アOP T1 Stg,mA V mA ℃ ℃,35 25 50 -55-125 -55-150,"2,下载,SJ 50033/141—1999,3. 3.2主要电特性（7;=25。0,〇,V,んGot,PF ns,4=10 mA k25 V Kr=0 户 1 MHz ルエ10 mA, R-10 kQ,小6 V,最小值最大值最小值最大值最小值最大值最小值最大值,一1.0 一1.0 一0.5 一0.4,3.4电测试要求,电测试应按GB/T 6571及本规范的规定进行,3.5 标志,根据器件的特点,只要求极性标志,按图1识别。器件包装盒上的标志应按GJB 33A,的规定,4质量保证规定,4.1 抽样和检验,抽样和检验应按GJB 33A和本规范的规定,4.2 鉴定检验,鉴定检验应按GJB 33A和本规范表2、表3、表4和表5的规定,4.3 筛选（仅对JT级和JCT级）,筛选的步骤和条件应按GJB 33A表2和本规范表1的规定。其测试应按本规范表2,的规定进行，超过表2极限值的器件应予剔除,表1筛选,筛 选试验方法条件,1.内部目检（封帽前） 2073,2.髙温寿命,非工作寿命,（稳定烘焙）,1032,7；.=150℃f片48h,3.温度循环,（空气一空气）,浪涌,1051,4066,25 ℃时不要求停顿,试验条件B,但高温为150 ℃,循环20次,/ （在髙、低温下的时间）＞10 min,试验条件 B, /fsm=50 mA, "=4,4.恒定加速度2006 Y!方向,加速度为196 000 m./s2,不要求保持1 min.,7.密封,a.细检漏,b.粗检漏,1071,a.试验条件Hl；,b.试验条件C.,11. PDA的中间电测试和（厶）变化量有ん,12.功率老炼1038 Ta=25 汽,4=35 mA,仁96 h,13.终点测试,PDA的中间测试电参数的（A）变,化量,A 昨区 10%lVD,A ん W0.5 pA 或 100% 1VD 取较大 #,-3 -,SJ 50033/141—1999,4.4 质量一致性检验,质量一致性检验应按GJB 33A和本规范的规定,4. 4.1 A组检验,A组检验应按GJB 33A利本规范表2的规定进行,4. 4.2 B组检验,B组检验应按GJB 33A和本规范表3的规定进行,4. 4.3 C组检验,C组检验应按GJB 33A和本规范表4的规定进行,4.5检验和试验方法,检验和试验方法应按本规范相应表的规定,表2 A组检验,检验或试验,GB/T 657I第!V章第1节,符号,极艮值单位,方法条件,抽样方窠,最小最大, 分组(PPM-3),目检和机械检验GJB 128A,2071,LTPD=5 外观无缺损引线无明显,锈蚀,2 分组(PPM—2),正向电压,反向电流,2,1,4 -10 mA,及=25 V,116,（c=o）,/r,一1.0,1.0,V,3 分组(PPM—2),高温工作,反向电流,低温工作,正……
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